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簡要描述：MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器
產(chǎn)品型號：MAXIM廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-11-22訪 問 量：2009| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
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MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。
·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器 ·
?質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數(shù)探測器、正負(fù)離子探測器、107 cps ·質(zhì)量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。 ·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器 ·質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數(shù)探測器、正負(fù)離子探測器、107 cps ·質(zhì)量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
上一產(chǎn)品：PTR-TOF 1000 Ultra質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)質(zhì)譜儀
下一產(chǎn)品：SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
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